Патентные ландшафты. Разработка и использование для анализа технологических трендов
Купить за
664,00 р.
Старая цена: 1 021,00 р.
Цена обновлена: 13.01.2025
Производитель:
Издательский Дом ВШЭ
Код производителя:
Модель:
Наличие:
Есть в наличии
Информация о товаре
Издание содержит подробные рекомендации по формированию патентного ландшафта – проведению анализа патентных документов и научно-технической информации в целях изучения состояния, трендов и перспектив развития технологических областей или отдельных технологий. Последовательно рассматриваются основные понятия патентного анализа и источники данных для него, исследовательские методы и аналитические представления, используемые в патентных ландшафтах, алгоритм их построения и особенности применения. Методологические и практические рекомендации сопровождаются примерами по результатам анализа патентной активности в различных технологических областях.
Публикация имеет прикладной характер и рассчитана на широкий круг читателей: аналитиков, менеджеров, деятельность которых связана с управлением исследованиями и разработками, ученых, преподавателей высшей школы, аспирантов и других лиц, интересующихся развитием и оценкой технологий.
Издание содержит подробные рекомендации по формированию патентного ландшафта – проведению анализа патентных документов и научно-технической информации в целях изучения состояния, трендов и перспектив развития технологических областей или отдельных технологий. Последовательно рассматриваются основные понятия патентного анализа и источники данных для него, исследовательские методы и аналитические представления, используемые в патентных ландшафтах, алгоритм их построения и особенности применения. Методологические и практические рекомендации сопровождаются примерами по результатам анализа патентной активности в различных технологических областях.
Публикация имеет прикладной характер и рассчитана на широкий круг читателей: аналитиков, менеджеров, деятельность которых связана с управлением исследованиями и разработками, ученых, преподавателей высшей школы, аспирантов и других лиц, интересующихся развитием и оценкой технологий.
Вес
194 г
Длина
205 мм
Ширина
145 мм
Высота
5 мм